
XGT-9000
HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪
X射线显微分析仪(μXRF)XGT-9000提供高效外来物质分析与元素分布检测方案,具备“快速分析模式”和“细节分析模式”。该设备通过强大的颗粒增强技术和优化的元素分布成像功能,实现高效、精确的微区分析。其独特的同轴光学设计与双照明方式确保了对各类样品的清晰观察,而多样化的图像处理手段则进一步提升了分析精度。
- 仪器种类单波长激发
- X射线光管功率50W
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XGT-9000

XploRA Nano

FluoroMax Plus

NanoLog®

PI-200-I

GD Profiler 2


C05-LT

Evaluator HT 系列

Evaluator LT 系列

Evaluator EC/ES 系列

JEM-ARM200F(C)-NEO ARM