Nanometrics 4150
二手半导体设备 JENESIS Nanometrics 4150 Film Thickness-膜厚仪(旧)
二手半导体设备 JENESIS Nanometrics 4150 Film Thickness-膜厚仪(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nanometrics 4150提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
- 品牌JENESIS
- 型号Nanometrics 4150