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共 547 条

二手半导体设备 JENESIS Nanometrics 4150 Film Thickness-膜厚仪(旧)

Nanometrics 4150

二手半导体设备 JENESIS Nanometrics 4150 Film Thickness-膜厚仪(旧)

二手半导体设备 JENESIS Nanometrics 4150 Film Thickness-膜厚仪(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nanometrics 4150提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号Nanometrics 4150
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二手半导体设备 JENESIS MDC CSM/WIN C-V PLOT-C-V测量(新)

MDC CSM/WIN

二手半导体设备 JENESIS MDC CSM/WIN C-V PLOT-C-V测量(新)

二手半导体设备 JENESIS MDC CSM/WIN C-V PLOT-C-V测量(新) 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS MDC CSM/WIN提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号MDC CSM/WIN
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二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor SFS6200 Surfscan-粒子计数器(旧)

KLA/Tencsor SFS6200

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor SFS6200 Surfscan-粒子计数器(旧)

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor SFS6200 Surfscan-粒子计数器(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA/Tencsor SFS6200提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号KLA/Tencsor SFS6200
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二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor P-11 Profiler-测量仪(旧)

KLA/Tencsor P-11

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor P-11 Profiler-测量仪(旧)

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor P-11 Profiler-测量仪(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA/Tencsor P-11提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号KLA/Tencsor P-11
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二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencor P-11 Profiler-平面测量台阶仪(旧)

KLA/Tencor P-11

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencor P-11 Profiler-平面测量台阶仪(旧)

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencor P-11 Profiler-平面测量台阶仪(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA/Tencor P-11提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号KLA/Tencor P-11
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二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco FLX2320 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量(旧)

KLA Tenco FLX2320

二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco FLX2320 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量(旧)

二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco FLX2320 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA Tenco FLX2320提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号KLA Tenco FLX2320
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二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco Archer Overlay-叠加测量系统(旧)

KLA Tenco Archer

二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco Archer Overlay-叠加测量系统(旧)

二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco Archer Overlay-叠加测量系统(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA Tenco Archer提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号KLA Tenco Archer
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二手半导体设备 JENESIS KLA Candela CS20 Thickness Measurement-測定裝備/膜厚仪(旧)

KLA Candela CS20

二手半导体设备 JENESIS KLA Candela CS20 Thickness Measurement-測定裝備/膜厚仪(旧)

二手半导体设备 JENESIS KLA Candela CS20 Thickness Measurement-測定裝備/膜厚仪(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA Candela CS20提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号KLA Candela CS20
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二手半导体设备 JENESIS Hitachi S4700 FE SEM-扫描电镜(旧)

Hitachi S4700

二手半导体设备 JENESIS Hitachi S4700 FE SEM-扫描电镜(旧)

二手半导体设备 JENESIS Hitachi S4700 FE SEM-扫描电镜(旧) 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Hitachi S4700提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号Hitachi S4700
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二手半导体设备 JENESIS FLX-2908 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量(旧)

FLX-2908

二手半导体设备 JENESIS FLX-2908 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量(旧)

二手半导体设备 JENESIS FLX-2908 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量(旧) 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS FLX-2908提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号FLX-2908
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二手半导体设备 JENESIS Bio Rad QS300 FTIR-测定装备(旧)

Bio Rad QS300

二手半导体设备 JENESIS Bio Rad QS300 FTIR-测定装备(旧)

二手半导体设备 JENESIS Bio Rad QS300 FTIR-测定装备(旧) 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Bio Rad QS300提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号Bio Rad QS300
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二手半导体设备 JENESIS Bid Rad QS408 FTIR-測定裝備(旧)

Bid Rad QS408

二手半导体设备 JENESIS Bid Rad QS408 FTIR-測定裝備(旧)

二手半导体设备 JENESIS Bid Rad QS408 FTIR-測定裝備(旧) 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Bid Rad QS408提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询;设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
  • 品牌JENESIS
  • 型号Bid Rad QS408
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