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二手半导体设备 HEB Nikon Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧）
二手半导体设备 HEB Nikon Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕HEB Nikon提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。
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