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FIB-SEM 双束系统主要应用:1)TEM 样品原位制备(精确切取特定区域);2)半导体失效分析(精确截面切割和观察);3)三维重构(连续切片+SEM 成像构建 3D 模型);4)纳米加工和原型制造;5)EBSD 样品制备(表面精细抛光);6)电路修改(切割和沉积导线)。