日本电子 JEOL 冷场发射球差校正透射电镜 JEM-ARM200F NEO ARM 观察样品前需要哪些制样条件？

日本电子 JEOL 冷场发射球差校正透射电镜 JEM-ARM200F NEO ARM 用于显微成像时，应确认样品尺寸、导电性、表面清洁度、截面制备、固定方式和是否需要镀膜或染色。制样质量往往决定图像清晰度和缺陷判断可靠性。