日本电子 JEOL 软X射线分光谱仪 SXES 适合哪些显微成像场景？

日本电子 JEOL 软X射线分光谱仪 SXES 适合用于微观形貌、缺陷、组织结构、表面特征和微区成分观察。选型时不要只看型号名称，建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括：软X射线分析谱仪通过采集样品上的软X信号进行分析，其能量分辨率高达0.3eV，对轻元素的定量分析准确度高，如B元素的检出限可达20ppm，还可进行元素价态分析。该仪器能大幅提升扫描电镜和电子探针的分析能力。有关详情可咨询日本电子株式会社在中。