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HCLUE是一款高灵敏度的阴极发光（CL）系统，通过反射镜耦合优化，结合高性能光谱仪模块，适用于弱信号测量。该系统支持双探测器配置，覆盖185nm至2500nm的光谱范围，适用于纳米结构和体材料的高分辨率光谱分析。其应用广泛，包括材料科学、矿物学、地质学和生命科学等领域，能够有效表征材料缺陷、元素分布和杂质追踪。

Flex-CLUE是一款高性能的阴极发光（CL）分析仪器，采用光纤耦合技术，具备高效信号收集能力，并支持扫描成像、线扫描和点测量等功能。该设备拥有140mm至320mm的不同焦长光谱仪选项，光谱范围覆盖200nm至1000nm或400nm至1700nm，适用于半导体、矿物、地质、公安及生命科学等多个领域的材料表征需求。通过结合扫描电子显微镜，Flex-CLUE能提供高空间分辨率的光谱结果，是纳米结构和体材料的独特分析工具。

该设备利用脉冲炉高温技术使样品中的氧、氢、氮元素分别转化为CO、H2O和N2，并通过非分散红外检测技术和热导检测器进行测定，实现对金属材料中氧、氢、氮含量的精确分析。HORIBA公司凭借其丰富经验和专利技术，提供从分析、维护到故障排除的一站式服务，确保设备高效稳定运行。此外，该设备具备多种自动化辅助系统，如自动进样、自动清扫和自动加载坩埚等，大幅减少了人工操作，提高了工作效率和检测精度。

该设备利用脉冲炉高温技术，通过石墨坩埚与样品反应，释放出的氧、氢、氮分别以CO、H2O、N2形式被提取并使用非分散红外检测技术及热导检测器测定，具备高效、准确、稳定的检测性能。配备自动进样、清扫及坩埚加载系统，大幅提高分析自动化程度，减少人工干预和维护工作量，同时提供详尽的导航功能支持，确保设备稳定运行。

CN-300离心式粒度分析仪提供高分辨率粒度分布测量，适用于10 nm至40 μm的颗粒，支持密度梯度和均一模式测量。该设备采用离心力技术，最高可达30,000g，并配备温度控制系统以确保准确性。其设计便于操作，坚固耐用，适合测量未稀释和稀释样品，尤其擅长检测少量杂质颗粒，且长时间测量性能稳定。通过比色皿式样品池，减少了样品交叉污染风险，并符合国际安全标准。

iHR光谱仪以其优异的成像质量、大化光通量、消除二次衍射光、光栅在轴扫描技术等特性，提供了高效、稳定的光谱分析解决方案。其灵活配置和易于使用的特性，配合不同规格的CCD探测器，满足多样化的实验需求。

HORIBA科学仪器部的InGaAs阵列探测器适用于近红外NIR弱信号探测，覆盖光谱范围0.8-1.7μm和1-2.2μm。该探测器可通过TE制冷或液氮制冷，实现高灵敏度与高动态范围的数据采集，并具备灵活的软件支持，适用于多种实验需求。

Symphony系列CCD探测器是由HORIBA Jobin Yvon公司推出的一款高性能光谱探测设备，具有高灵敏度、高速率、低噪音等优点，适用于各种光谱研究领域。其关键特点包括多种科研级别的CCD芯片选择、液氮制冷、兼容多数光谱仪以及SynerJY软件支持全自动操作。用户可根据具体应用需求选择合适的探测器配置，如波长范围、信号强度、光谱范围和分辨率等。此外，Symphony控制器系列提供了高速数据采集和存储功能，并确保了数据传输的完整性和准确性。

RZ-660 在体皮肤拉曼分析仪搭载灵活探头，可轻松检测人体各部位皮肤，实现 400-3600cm⁻¹ 全光谱范围快速采集。具备 200μm 机械探测深度与高分辨率，集成可视化摄像头，同步获取图像与光谱数据。配套智能软件提供向导式操作，支持皮肤含水量、角质层厚度、脂质构象与活性成分渗透等多维度分析，助力化妆品研发与功效评估。

全新“在线”超紧凑型VS20紫外可见分光光谱仪，具备实时测量多参数功能，适用于大区域水质网络的全面分析。该设备能够监测包括BOD、COD、温度、浊度、TSS、颜色及氮含量等多项水质指标，具有优异的抗震性和热稳定性。其创新设计不仅保证了结果的可靠性，还实现了光谱仪的小型化，便于在线探头集成，适用于生命科学、食品安全、水质检测和半导体等多个领域。

SignatureSPM 是 HORIBA推出的一款多模态材料表征平台，集成了原子力显微镜（AFM）和拉曼/光致发光（PL）技术，能够同时提供样品的物理和化学信息。该系统包括标准的多种 AFM 模式，并配备高性能光谱仪，确保高灵敏度和准确度。SignatureSPM 提供真正的共定位测量，允许用户在不干扰拉曼成像的情况下移动探针。此外，其分离的光学路径和自动化调节系统简化了操作并提高了精度。该仪器适用于材料科学、纳米技术和生物医学研究等领域，为纳米尺度下的材料性质和功能研究提供了强大工具。

GA-370 痕量气体分析仪采用交替流动调制型双光束非分散红外吸收法，具备高灵敏度和高精度，可实现连续监测微量杂质气体如CO、CO2和CH4。适用于高纯气体品质管理及各类气体制造设施的过程优化，尤其在空分工厂、氢气生产和半导体行业中具有重要应用价值，最低检出限可达10ppb，确保高精度现场测量。操作简便，无需频繁维护。

VA-5000系列多组分气体分析仪支持自由组合分析模块，最多可同时测量五种气体组分，如CO、CO2、NOx、SO2、CH4等，量程覆盖ppb至百分比级别，适用于燃料电池监测、温室气体研究、烟气监测等多个领域。具备高精度的重复性和直线性，支持多种测量原理，包括NDIR、CLA及多种氧气分析模块，满足复杂应用场景需求。

2024年5月30日，日本电子株式会社（JEOL）发布了新款120KV透射电镜，具备设计精炼、更换灯丝便捷、高度自动化及操作简便等功能特点。如需更多信息，请联系JEOL在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其分公司。

日本电子株式会社为扫描电镜JSM-IT800系列推出了高端能谱仪Gather-X，具备高灵敏度、高空间分辨率面扫和高效操作的特点，通过无创设计提升了灵敏度，并可与样品台偏压配合实现高分辨率面扫描，同时与扫描电镜一体化操作，方便快捷。

ECZ Luminous（JNM-ECZL系列）是一款集成了最新数字和高频技术的核磁共振波谱仪。通过高度集成的STS智能收发系统，该设备实现了微型化和高可靠性，支持高磁场和固态核磁共振测试，并具备多频驱动系统以进行多共振实验。

JEOL推出的JES-X3系列超高灵敏度电子自旋共振波谱仪，由全电脑控制并配备最新的磁场控制系统，适用于各种ESR测量需求，从常规检测到特殊研究均可胜任。该设备操作简便，是实验室的理想选择。

该设备是一款高性能的扫描电子显微镜，具有超高分辨率（最高0.5 nm@15 kV和0.7 nm@1 kV）和高速精确分析能力。适用于广泛的样品类型，包括磁性和非导电材料。其主要技术参数包括：分辨率0.6nm@15kV、0.7nm@1kV；放大倍数25至2,000,000倍；加速电压0.01至30kV；束流强度高达300nA（15kV）。配备浸没式热场发射电子枪和超级混合式无漏磁物镜，以及5轴马达驱动样品台。

软X射线分析谱仪通过采集样品上的软X信号进行分析，其能量分辨率高达0.3eV，对轻元素的定量分析准确度高，如B元素的检出限可达20ppm，还可进行元素价态分析。该仪器能大幅提升扫描电镜和电子探针的分析能力。有关详情可咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其各分支机构。

JEM-ACE200F是日本电子推出的一款高性能、高稳定性的透射电子显微镜，注重分析效率和操作自动化。其独特的设计不仅提升了抗干扰能力，而且拥有卓越的技术参数，包括点分辨率0.21nm和信息分辨率0.11nm等，并标配洛伦兹模式及双超级能谱配置。

日本电子株式会社（JEOL）推出新款场发射透射电镜JEM-F200，整合了近年透射电镜的各种功能。该设备采用四级聚光镜设计，具备高端扫描系统、皮米精度样品台控制及全自动装样测角台，并搭载双超级能谱系统，提供便捷、安全的操作体验，同时具备优秀的高分辨观察和成分分析能力。此外，JEM-F200还具有节能减排的特点。

氩离子截面抛光仪（Cross Section Polisher，简称CP）是一种由日本电子公司研发的创新仪器，通过使用氩离子束轰击样品表面以制备截面，适用于扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、EBSD分析等领域。自2004年问世以来，该技术在全球范围内迅速普及，并成为一种标准加工方法。最新一代产品IB-19530CP于2017年推出，显著提升了加工质量和操作便利性。其主要特点是能够制备出极为平整且损伤小的截面，尤其适合处理复合材料。

日本电子（JEOL Ltd.）发布了全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2），具有超高空间分辨率与能谱分析的组合优化、新开发的FHP2物镜极靴、超宽极靴（WGP）提高能谱分析灵敏度、12极子球差（Cs）校正器和自动校正软件以及新式冷场发射枪等特性，旨在提升显微镜的分辨率和稳定性。

日本电子株式会社于2020年5月25日发布了新款场发射扫描电子显微镜JSM-IT800系列，并于2024年7月28日升级为JSM-IT810系列。该系列电镜具有强大的成像能力和快速的分析速度，适用于多种材料科学领域。升级后的JSM-IT810系列具备更强的实时功能和更高的自动化程度，使操作更为简便。