全量产品目录

二手半导体设备 JENESIS Olympus 030 Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Olympus 030提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Nikon 832 Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nikon 832提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Nikon 781 Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nikon 781提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Nikon 607 Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nikon 607提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Nikon 343 Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nikon 343提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Nikon 055 Micro Scope Low Power-低倍显微镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nikon 055提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Nanometrics Nanospec 6100 Thickness Measurement-測定裝備/膜厚仪（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nanometrics Nanospec 6100提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Nanometrics 4150 Film Thickness-膜厚仪（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Nanometrics 4150提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS MDC CSM/WIN C-V PLOT-C-V测量（新） 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS MDC CSM/WIN提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor SFS6200 Surfscan-粒子计数器（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA/Tencsor SFS6200提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencsor P-11 Profiler-测量仪（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA/Tencsor P-11提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS KLA/Tencor P-11 Profiler-平面测量台阶仪（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA/Tencor P-11提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco FLX2320 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA Tenco FLX2320提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS KLA Tenco Archer Overlay-叠加测量系统（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA Tenco Archer提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS KLA Candela CS20 Thickness Measurement-測定裝備/膜厚仪（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS KLA Candela CS20提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Hitachi S4700 FE SEM-扫描电镜（旧） 属于检测、量测与显微分析方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Hitachi S4700提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS FLX-2908 Stress Gauge-晶圆弯曲和晶圆应力测量（旧） 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS FLX-2908提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Bio Rad QS300 FTIR-测定装备（旧） 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Bio Rad QS300提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS Bid Rad QS408 FTIR-測定裝備（旧） 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS Bid Rad QS408提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS ALWIN AW-gage200 M-Guage-測定裝備/薄层电阻测量仪（新） 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS ALWIN AW-gage200提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 JENESIS ALWIN AW-gage200 M Gauge-測定裝備/薄层电阻测量仪（新） 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕JENESIS ALWIN AW-gage200提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 Inficon RGA-气体分析检测仪（旧） 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕Inficon提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 ILS-IIINM 激光打标机 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕ILS-IIINM提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。

二手半导体设备 HOYEON HECH.CO.LTD 电感耦合等离子体质谱仪 属于清洗、划片、研磨抛光与厂务配套方向的二手半导体设备。森德仪器可围绕HOYEON HECH.CO.LTD HOYEON HECH.CO.LTD 电感耦合等离子体质谱仪提供找货、报价、配置确认、验机协同和交付咨询；设备状态、年份、所在地和交付周期以实际沟通为准。