显微成像与表面分析目录

TESCAN MIRA场发射扫描电镜给用户带来了高性能的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等），同时保持着令人惊叹的性价比。MIRA3 的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用，例如：EBSD、WDX等分析。MIRA3 场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室（LM、XM或GM）提供5轴马达驱动全计算机化优中心样品台，完善的几何设计更适合安装能谱仪（EDS），波谱仪（WDX），电子背散射衍射（EBSD）。XM和GM样品室适用于大样品的分析。 现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics™）设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”，它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™），可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术，实时得到立体图像，三维导航 维修简单 现在保持电镜处在优化后的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率大大提升，操作最简化。

TESCAN CLARA是一款高性能扫描电子显微镜，具备广泛的适用性和高分辨率成像能力。它采用TESCAN BrightBeam™型SEM镜筒，配备静电-电磁复合物镜，可在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像，特别适合磁性样品的分析。其多功能探测器系统和模块化软件设计使得用户能够灵活地进行各种材料的表征和分析，适用于纳米材料研究、高端制造业质量控制及各类研发工作。