显微成像与表面分析目录

TESCAN MAGNA 是一款功能强大的分析仪器，专为纳米材料的形貌表征及微观分析设计。它配备了Triglav™型SEM镜筒，具有超高分辨率，尤其在低电压下表现优异，并且内置探测器系统能过滤电子信号，增强图像衬度和表面灵敏度。该设备采用肖特基场发射电子枪，提供高束流，适合长时间样品分析。其用户友好的TESCAN Essence™软件简化了操作流程，提高了工作效率。此外，它拥有多个探测器系统，能捕捉不同衬度的图像，全面揭示样品特性。

iMScope QT是一款集成了高空间分辨率质谱成像与光学显微镜技术的先进仪器，通过连接LCMS-9030系统，显著提升了成像速度和灵敏度。该设备支持显微镜-MALDI单元的灵活拆装，能够高效完成从定性到定量再到定位的全面分析任务，同时具备高分辨率、高速度、高精度和高效率的特点。其独特的设计使得用户可以在质谱成像和LC-Q TOF分析之间轻松切换，满足多样化的科研需求。

Cratos W50S智能数显显微硬度分析系统适用于各种材料的小负荷维氏硬度测试，具有高精度、自动化操作的特点。该系统集成了Windows 7操作系统和内置CCD图像采集系统，支持多种硬度标尺转换，并能自动生成测试报告。其X-Y电动试台和自动对焦功能进一步提升了测试效率和准确性，符合多项国际标准。

Cratos W50全自动数显显微硬度计适用于小负荷维氏硬度试验，尤其适合测试小型精密零件、表面硬化层等。该硬度计与电脑一体化设计，配备CCD图像采集系统，能自动测量并记录硬度值，具备高精度和稳定性，避免人为误差。支持多种硬度转换标尺，并可生成Word或Excel报告及硬度-深度曲线。技术参数全面，符合多项国际标准。

AFM-Piccolo是一款富睿思专门为科研用户开发的桌面型原子力显微镜，配备超薄光杠杆式测头，探针上方和前侧空间完全开放，特别适合与各类高分辨光学显微系统原位集成联用。

HORIBA 推出的 InverTau™ 是一款先进的 FLIM 激光扫描系统，结合了高稳定性、高灵敏度的荧光寿命成像技术，适用于多种研究领域。该系统支持从 50 皮秒到数秒的寿命范围检测，可与 FLIMera™ 相机及脉冲激光器协同工作，并通过 FiPho 计时单元的 TCSPC 技术实现精准寿命成像。其 4K×4K 高分辨率、多种扫描模式以及直观的 EzTime™ 软件，使其成为兼具高精度与多功能性的理想选择，同时兼容 Nikon® Ti2-U 等多种显微镜型号。

日本电子株式会社（JEOL）于2021年11月发布升级版钨灯丝扫描电镜JSM-IT510，具备自动调节观测条件、低真空二次电子探头、图像与能谱一体化、实时立体三维图像、实时分析功能、新的导航放大功能、0倍放大选择区域及X射线产生区域显示等特性，支持快速生成包含图像和成分分析的报告书。

荷兰飞纳公司推出的台式场发射扫描电镜能谱一体机Phenom Nano G2，继承了飞纳台式扫描电镜系列的全自动操作、快速成像等特点，采用高亮度肖特基场发射电子源，具备背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能。该设备拥有100万倍最高放大倍数及2.5nm分辨率，支持不喷金直接观察不导电样品，配备集成全自动马达样品台和无漏磁设计，便于磁性样品观测。其操作简便，维护成本低，适合长时间稳定工作。

SignatureSPM 是 HORIBA推出的一款多模态材料表征平台，集成了原子力显微镜（AFM）和拉曼/光致发光（PL）技术，能够同时提供样品的物理和化学信息。该系统包括标准的多种 AFM 模式，并配备高性能光谱仪，确保高灵敏度和准确度。SignatureSPM 提供真正的共定位测量，允许用户在不干扰拉曼成像的情况下移动探针。此外，其分离的光学路径和自动化调节系统简化了操作并提高了精度。该仪器适用于材料科学、纳米技术和生物医学研究等领域，为纳米尺度下的材料性质和功能研究提供了强大工具。

2024年5月30日，日本电子株式会社（JEOL）发布了新款120KV透射电镜，具备设计精炼、更换灯丝便捷、高度自动化及操作简便等功能特点。如需更多信息，请联系JEOL在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其分公司。

该设备是一款高性能的扫描电子显微镜，具有超高分辨率（最高0.5 nm@15 kV和0.7 nm@1 kV）和高速精确分析能力。适用于广泛的样品类型，包括磁性和非导电材料。其主要技术参数包括：分辨率0.6nm@15kV、0.7nm@1kV；放大倍数25至2,000,000倍；加速电压0.01至30kV；束流强度高达300nA（15kV）。配备浸没式热场发射电子枪和超级混合式无漏磁物镜，以及5轴马达驱动样品台。

JEM-ACE200F是日本电子推出的一款高性能、高稳定性的透射电子显微镜，注重分析效率和操作自动化。其独特的设计不仅提升了抗干扰能力，而且拥有卓越的技术参数，包括点分辨率0.21nm和信息分辨率0.11nm等，并标配洛伦兹模式及双超级能谱配置。

日本电子株式会社（JEOL）推出新款场发射透射电镜JEM-F200，整合了近年透射电镜的各种功能。该设备采用四级聚光镜设计，具备高端扫描系统、皮米精度样品台控制及全自动装样测角台，并搭载双超级能谱系统，提供便捷、安全的操作体验，同时具备优秀的高分辨观察和成分分析能力。此外，JEM-F200还具有节能减排的特点。

氩离子截面抛光仪（Cross Section Polisher，简称CP）是一种由日本电子公司研发的创新仪器，通过使用氩离子束轰击样品表面以制备截面，适用于扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、EBSD分析等领域。自2004年问世以来，该技术在全球范围内迅速普及，并成为一种标准加工方法。最新一代产品IB-19530CP于2017年推出，显著提升了加工质量和操作便利性。其主要特点是能够制备出极为平整且损伤小的截面，尤其适合处理复合材料。

日本电子（JEOL Ltd.）发布了全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2），具有超高空间分辨率与能谱分析的组合优化、新开发的FHP2物镜极靴、超宽极靴（WGP）提高能谱分析灵敏度、12极子球差（Cs）校正器和自动校正软件以及新式冷场发射枪等特性，旨在提升显微镜的分辨率和稳定性。

日本电子株式会社于2020年5月25日发布了新款场发射扫描电子显微镜JSM-IT800系列，并于2024年7月28日升级为JSM-IT810系列。该系列电镜具有强大的成像能力和快速的分析速度，适用于多种材料科学领域。升级后的JSM-IT810系列具备更强的实时功能和更高的自动化程度，使操作更为简便。

日本电子株式会社推出高通量新型扫描电子显微镜JSM-IT700HR，并发布了其升级版JSM-IT710HR，具有最高1nm分辨率和300nA最大探针电流，支持快速高清晰图像采集与简便元素分析。该设备采用触屏式用户界面，具备大样品室和防震设计，新增信号深度显示功能，便于实时了解样品分析深度。提供低真空观察型和分析型两种型号，满足不同需求。

电子探针作为电子光学产品中唯一能够进行准确定量分析的仪器，通过波谱和能谱技术对材料成分进行快速而精准的分析。如需了解更多详情，请联系捷欧路（北京）科贸有限公司各分公司。

日本电子株式会社（JEOL Ltd.）于2022年2月18日发布了新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)，专为蛋白质的单颗粒分析设计。该设备具有优化的电子光学系统、高分辨极靴、自动校正系统和改进的稳定性，同时配备冷场发射电子枪和内置式欧米茄能量过滤器，提升了操作性和数据质量。

国仪量子双束显微镜DB550集成了自主可控的场发射电子镜筒和“承影”离子镜筒，具备高压隧道技术和低像差无漏磁物镜设计，提供高分辨率成像和高质量纳米加工能力。该设备配备纳米机械手和气体注入器，扩展口多达24个，支持全面配置与强扩展性，为用户提供全能纳米分析和加工解决方案，并提供三年质保服务。