IB-19530CP
氩离子截面抛光仪（Cross Section Polisher，简称CP）是一种由日本电子公司研发的创新仪器，通过使用氩离子束轰击样品表面以制备截面，适用于扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、EBSD分析等领域。自2004年问世以来，该技术在全球范围内迅速普及，并成为一种标准加工方法。最新一代产品IB-19530CP于2017年推出，显著提升了加工质量和操作便利性。其主要特点是能够制备出极为平整且损伤小的截面，尤其适合处理复合材料。
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氩离子截面抛光仪 (Cross Section Polisher，简称CP)，凝聚了日本电子科技人员多年的梦想与实践，是扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、EBSD分析等应用领域变革性创新发明。自2004年日本电子发明该仪器以来，在全世界迅速普及。用CP切割截面的方法甚至已经成为一种加工方法-CP法被定义下来，在很多论文里度可以查到。
氩离子截面抛光仪顾名思义是使用氩离子束轰击样品表面进行样品加工，用其他方法难以制备的样品，软硬材质混合的复合材料，都能够制备出完美光滑的截面。除了表面极为平整外，被加工区域变形小、损伤小、无异物介入、结构无破坏是其主要特点。
2017年1月JEOL推出新一代可监控智能化加工产品，型号IB-19530CP，加工质量和方便性大大提高。
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