日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 观察样品前需要哪些制样条件？
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 用于显微成像时，应确认样品尺寸、导电性、表面清洁度、截面制备、固定方式和是否需要镀膜或染色。制样质量往往决定图像清晰度和缺陷判断可靠性。
JEM-ARM300F2
日本电子（JEOL Ltd.）发布了全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2），具有超高空间分辨率与能谱分析的组合优化、新开发的FHP2物镜极靴、超宽极靴（WGP）提高能谱分析灵敏度、12极子球差（Cs）校正器和自动校正软件以及新式冷场发射枪等特性，旨在提升显微镜的分辨率和稳定性。
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2020年02月14日，日本电子（JEOL Ltd.）总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2），该电子显微镜将于2020年2月发布。
■ 主要特点
1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。
新开发的FHP2物镜极靴的特点如下：
1）提高了能谱分析效率到两倍以上。
2）低光学系数，低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。
（保证的STEM分辨率：300kV时53pm，80kV时96pm）*
*在配置STEM扩展轨迹像差（ETA）校正器时
2 用于物镜的超宽极靴（WGP）能谱分析灵敏度超高，原位扩展极强。
1）WGP极靴的能谱固体角为2.2 sr。
2）WGP极靴宽度可达6mm，更方便进行各种类型的原位实验。
3 JEOL开发的12极子球差（Cs）校正器和自动校正软件。
1）FHP2极靴，GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到53 pm。
2）WGP极靴，GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到59 pm。
3）JEOL COSMO™（自动校正软件）使快速，轻松执行像差校正成为可能。
4 新式冷场发射枪（Cold-FEG）。
GRAND ARM™2配备了新式Cold-FEG，可从电子源提供较小的能量散布。稳定性更好。
5 减轻外部干扰的外壳
这种新外壳是减少外部干扰（例如气流，室内温度变化和噪音）的标准。
■ 主要规格
保证分辨率 | HAADF-STEM图像：53pm（带ETA校正器和FHP2） 电子枪：冷场发射枪（Cold-FEG） |
加速电压 | 标准：300kV和80kV |
能量色散X射线光谱仪 | 大面积SDD（158mm 2）：可以使用双探测器 |
采购问答
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 用于显微成像时，应确认样品尺寸、导电性、表面清洁度、截面制备、固定方式和是否需要镀膜或染色。制样质量往往决定图像清晰度和缺陷判断可靠性。
JEM-ARM300F2 的成像模式应围绕目标结构尺寸、对比方式和分析目的确定。若要做定量图像分析，还需要保证标尺校准、照明或束流条件稳定。
如果需要微区成分、缺陷来源或污染物判断，可能需要能谱、离子束、切割抛光或镀膜设备。选型时建议把典型样品和判定目标一起评估。
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 适合用于微观形貌、缺陷、组织结构、表面特征和微区成分观察。选型时不要只看型号名称，建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括：日本电子（JEOL Ltd.）发布了全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2），具有超高空间分辨率与能谱分析的组合优化、新开发的FHP2物镜极靴、超宽极靴（WGP）提高能谱分析灵敏度、12极子球差（Cs）。
采购 JEM-ARM300F2 前建议确认核心性能指标、样品兼容性、自动化程度、软件和数据要求、安装条件、耗材维护、培训安排和售后响应。这样可以避免到货后才发现配置不足或现场条件不匹配。
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 的价格差异通常来自主机配置、检测或控制模块、自动化附件、软件授权、耗材包、安装培训、质保年限和应用支持范围。询价时建议要求按必选配置、可选升级和服务耗材分项列清。
比较 JEM-ARM300F2 与同类产品时，建议重点看性能稳定性、方法适配能力、扩展接口、软件易用性、耗材可获得性、维护复杂度和本地服务能力。长期使用场景下，运行成本往往和采购价同样重要。
安装前应确认空间尺寸、供电、温湿度、台面或地面承重、气源、水源、排风、网络接口和安全要求。精密分析设备还要关注振动、粉尘、电磁干扰和日常维护通道。
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 后期维护应关注易耗件更换、关键部件状态、校准或性能验证、软件备份、运行环境和异常报警记录。采购前可要求供应商提供常用耗材清单、建议维护周期和年度运行成本估算。
森德仪器可围绕 日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 提供广东、广州及华南区域的选型沟通、配置报价、采购支持、安装培训和售后协同。沟通时建议提供样品信息、应用目标、预算范围和交付时间，便于快速形成可执行方案。
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