日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 可以测哪些类型的颗粒样品？
日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 适合粉体、浆料、乳液、悬浮液、纳米材料或相关工业样品的粒径表征。选型时要确认粒径范围、分散方式、样品是否团聚或吸湿，以及报告需要 D10、D50、D90 还是完整分布。
CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)
日本电子株式会社（JEOL Ltd.）于2022年2月18日发布了新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)，专为蛋白质的单颗粒分析设计。该设备具有优化的电子光学系统、高分辨极靴、自动校正系统和改进的稳定性，同时配备冷场发射电子枪和内置式欧米茄能量过滤器，提升了操作性和数据质量。
森德仪器提供 日本电子/JEOL CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA) 在全国范围内的代理经销、选型咨询、报价沟通、采购支持、安装培训和售后协同服务，价格面议。
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新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)正式发售
2022/02/18
日本电子株式会社（JEOL Ltd.）2022年2月18日正式公布新一代200KV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA), 主要用于蛋白质的单颗粒分析，该电镜已于2022年1月陆续发货。
研发背景
不同的研究目的对电镜配置要求各异，在结构生物学中亦是如此。Tomography研究与单颗粒分析对电镜的要求也有区别，由于近年对我公司单颗粒分析电镜的需求猛增，我们专门设计了一款极具针对性的产品。 CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)不但配置了冷场发射电子枪，镜筒内的欧米伽能量过滤器等日本电子的独门绝技，还专门研制了一款高分辨极靴。
主要特点
1. 为单颗粒分析研究优化的电子光学系统
全新的高分辨极靴色差系数(Cc) 1.8 mm， 球差系数(Cs) 1.5mm，可获得高分辨兼顾高衬度的数据。配合冷场发射电子枪和欧米伽能量过滤器，CRYO ARM™ 200 II可获得更好高分辨数据。
2. 更好的可操作性
CRYO ARM™ 200 II增加了欧米伽过滤器的自动校正系统和菲涅尔光环消减系统提高了可操作性。
3. 更高的稳定性
CRYO ARM™ 200 II的真空系统和冷冻系统进行了进一步优化,提高了整体的稳定性。
主要技术指标
电子枪 | 冷场发射电子枪(Cold FEG) |
最高加速电压 | 200 kV |
能量过滤器 | 内置式欧米噶能量过滤器(New Omega Filter) |
样品冷却温度 | ≤100K |
样品储存 | 最多可储存12个样品. |
选购件 | JEOL 单颗粒自动采集软件(JADAS)等 |
详情请咨询日本电子株式会社在中国的子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其分支机构
采购问答
日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 适合粉体、浆料、乳液、悬浮液、纳米材料或相关工业样品的粒径表征。选型时要确认粒径范围、分散方式、样品是否团聚或吸湿，以及报告需要 D10、D50、D90 还是完整分布。
分散介质、超声强度、搅拌速度、遮光率和样品浓度都会影响粒径结果。采购前建议用代表样品确认干法或湿法条件，并评估重复性，而不是只比较仪器量程。
粒度测试通常需要固定分散条件、测试次数、折射率或材料参数。验收时建议参考 ISO 13320 或企业方法要求，用质控样和真实样品同时确认结果稳定。
日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 适合用于粉体、浆料、乳液、纳米材料、制药和新能源材料的粒径分布评估。选型时不要只看型号名称，建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括：日本电子株式会社（JEOL Ltd.）于2022年2月18日发布了新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)，专为蛋白质的单颗粒分析设计。该设备具有优化的电子光学系统、高分辨极靴、自动校正系统。
采购 CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA) 前建议确认核心性能指标、样品兼容性、自动化程度、软件和数据要求、安装条件、耗材维护、培训安排和售后响应。这样可以避免到货后才发现配置不足或现场条件不匹配。
日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 的价格差异通常来自主机配置、检测或控制模块、自动化附件、软件授权、耗材包、安装培训、质保年限和应用支持范围。询价时建议要求按必选配置、可选升级和服务耗材分项列清。
比较 CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA) 与同类产品时，建议重点看性能稳定性、方法适配能力、扩展接口、软件易用性、耗材可获得性、维护复杂度和本地服务能力。长期使用场景下，运行成本往往和采购价同样重要。
安装前应确认空间尺寸、供电、温湿度、台面或地面承重、气源、水源、排风、网络接口和安全要求。精密分析设备还要关注振动、粉尘、电磁干扰和日常维护通道。
日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 后期维护应关注易耗件更换、关键部件状态、校准或性能验证、软件备份、运行环境和异常报警记录。采购前可要求供应商提供常用耗材清单、建议维护周期和年度运行成本估算。
森德仪器可围绕 日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 提供广东、广州及华南区域的选型沟通、配置报价、采购支持、安装培训和售后协同。沟通时建议提供样品信息、应用目标、预算范围和交付时间，便于快速形成可执行方案。
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