JEM-2100Plus
JEM-2100Plus是一款高性能透射电子显微镜，专为材料科学、纳米技术和生命科学等领域设计。它具备64位Windows操作系统，一体化控制STEM、EDS、CCD和EELS等功能，并拥有高度稳定的测角台和先进的压电陶瓷控制样品台技术。其三级聚光镜设计确保了高亮度电子束，提升了分析和衍射成像能力，点分辨率可达0.19nm，线分辨率可达0.14nm，加速电压范围从80kV到200kV。此外，它还具有良好的扩展性和最小束斑尺寸0.5nm等优点。
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仪器简介：
JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。
JEM-2100Plus搭载 64位 Windows操作界面,操作更简单。并与STEM, EDS, CCD和EELS实现了一体化控制。
JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进，非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件，可以轻松实现3D观察。 压电陶瓷控制样品台也独步天下。
The JEM-2100Plus采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力。
技术参数（UHR）：
1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25
主要特点：
1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO
2.稳定便捷的操作系统
3.最小束斑尺寸：0.5nm
4.良好的扩展性
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