JEM-ACE200F
JEM-ACE200F是日本电子推出的一款高性能、高稳定性的透射电子显微镜，注重分析效率和操作自动化。其独特的设计不仅提升了抗干扰能力，而且拥有卓越的技术参数，包括点分辨率0.21nm和信息分辨率0.11nm等，并标配洛伦兹模式及双超级能谱配置。
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JEM-ACE200F是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。
主要技术指标：
1. 点分辨率：0.21nm；
2. 晶格分辨率：0.1nm;
3. STEM 分辨率：0.136nm；
4. 信息分辨率：0.11nm；
5. 能谱：可以安装两个超级能谱
6. 洛伦兹模式：标配
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