AFM-Piccolo
AFM-Piccolo是一款富睿思专门为科研用户开发的桌面型原子力显微镜，配备超薄光杠杆式测头，探针上方和前侧空间完全开放，特别适合与各类高分辨光学显微系统原位集成联用。
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AFM-Piccolo™是一款富睿思仪器专门为科研用户开发的桌面型原子力显微镜，配备超薄光杠杆式测头，探针上方和前侧空间完全开放，特别适合与各类高分辨光学显微系统原位集成联用。
超薄测头
专利保护的扁平式光杠杆光路，测头有效厚度<8 mm
探针上方和前部空间无遮挡，适配正置和倾斜式物镜
样品扫描型仪器架构确保探针和物镜相对位置不变
多组精密螺杆调节机构，便于激光对准及落针位置调整
与白光轮廓仪原位联用
AFM-Piccolo可与白光轮廓仪原位联用，在回形栅格测试中，联用系统利用白光干涉测头和原子力测头对栅格标样进行原位跨尺度表征，分别获得大范围三维形貌和局部轮廓及粗糙度，并实现两种量测方法对同一位置高度测量结果的比对。
与拉曼显微镜原位联用
AFM-Piccolo可与拉曼显微镜原位联用，分别利用联用系统中的AFM和拉曼显微镜对分散了甲基紫分子的金膜表面的银纳米线进行原位形貌成像和光谱检测，验证了该体系下的表面增强拉曼光谱效应以及拉曼信号强度与纳米线方向的相关性。
请注意：AFM-Piccolo产品价格将因参数配置不同而变化。
形貌成像
接触模式（Contact Mode）
轻敲模式（Tapping Mode）
磁学模式
磁力显微镜（MFM）
电学模式
静电力显微镜（EFM）
开尔文探针力显微镜（KPFM）
压电力显微镜（PFM）
力学模式
侧向力显微镜（LFM）
纳米力学模式（Mechanical Mapping）
混合模式
真三维测量模式（True3DMeasurement™）
纳米刻蚀（Nano Lithography）
纳米操纵（Nano Manipulation）
核心控制器（S-Controller）
自主研发的国产新一代多功能原子力显微镜控制器，采用FPGA+DSP架构
配备24路独立的高精度ADC/DAC，可实现多种信号的高速并行处理及同步控制
能够为各类AFM工作模式提供硬件支持，综合性能达到国际一流水平
离线分析软件
AFM-Piccolo配备的离线分析软件FreeAnalysis，可提供调平、滤波、2D/3D显示、截面分析、粗糙度计算、裁剪、拼接、傅里叶变换等标准功能，支持针对特定样品的专属分析功能定制。
实时控制软件
AFM-Piccolo配备实时控制软件FreeControl，允许用户灵活配置各类扫描控制参数。
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