JIB-4700F
JIB-47000F是一款集成了扫描电镜和聚焦离子束的高性能仪器，具有场发射电子枪，支持实时研磨监控。其FIB分辨率为5nm，SEM分辨率达到1.2 nm（15 kV）和1.6 nm（1KV），并具备气体注入系统用于刻蚀和沉积。该设备适用于微区观察、样品分析及研磨，拥有广泛的适用范围和多项技术特点。
森德仪器提供 日本电子/JEOL JIB-4700F 在全国范围内的代理经销、选型咨询、报价沟通、采购支持、安装培训和售后协同服务，价格面议。
← 返回产品列表
仪器简介：
JIB-47000F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。
技术参数：
FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 1.2 nm（15 kV）1.6 nm（1KV）
FIB束流：最大90nA
SEM束流：最大300nA
气体输入系统 x1-3
主要特点：
监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
2大束流，最大90nA
3.提供空前稳定的图像
4.气体注入系统用于刻蚀和沉积
5.最大装样 150 mm
6.气锁式样品交换
7.五轴全对中样品台
8.多个样品分析接口
9.三维图像、能谱、EBSD
采购问答
请填写必填信息，我们将在工作日尽快回复。
