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GA-370 痕量气体分析仪

GA-370

GA-370 痕量气体分析仪采用交替流动调制型双光束非分散红外吸收法,具备高灵敏度和高精度,可实现连续监测微量杂质气体如CO、CO2和CH4。适用于高纯气体品质管理及各类气体制造设施的过程优化,尤其在空分工厂、氢气生产和半导体行业中具有重要应用价值,最低检出限可达10ppb,确保高精度现场测量。操作简便,无需频繁维护。

品牌: HORIBA产地: 日本价格: 面议服务区域: 全国

森德仪器提供 HORIBA GA-370 在全国范围内的代理经销、选型咨询、报价沟通、采购支持、安装培训和售后协同服务,价格面议。

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GA-370 痕量气体分析仪

GA-370 痕量气体分析仪.png

GA-370 痕量气体分析仪能够实现连续的、高灵敏度及高精度的微量杂质(CO、CO2、CH4)监测。它有助于高纯气体成品的品质管理,以及优化空分工厂、现场加氢站和半导体行业气体制造设施的生产过程。     


产品特色

高灵敏度

  • 采用交替流动调制型双光束非分散红外吸收法(NDIR),零点极其稳定,无漂移。

  • 最低检出限可达 10ppb,尤其适合追求高精度的现场测量。

  • 使高纯气体中的痕量气体检测成为可能。可应用于典型平衡气体如:氮气、氧气、氦气、氩气、氢气和空气。

  • * 如有需要用于测量其他平衡气的情况, 请联系 HORIBA。        


操作简单,无需维护

  • 操作简便的屏幕菜单简化了分析仪的校准和测量等各项操作。

  • 无需光学调整。

  • 触摸式彩色液晶显示屏(LCD)能够以图表方式显示历史数据。

典型应用

空分工厂的高纯气体中的微量杂质监测

空气分离装置通过低温蒸馏将大气中的空气主要分离成氧(O2)、氮(N2)和氩(Ar)。其原理是利用蒸馏装置中各组分气体沸点的差异进行空气分离。因为水和二氧化碳可能会导致蒸馏过程堵塞,并产生爆炸的危险,所以空气在进入低温蒸馏过程之前必须经过预净化装置(PPU)中的处理,去除空气中的水蒸气、二氧化碳(CO2)和其他杂质,以确保水和二氧化碳不会进入蒸馏装置。


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“现场加氢站”—“制氢加氢一体站”的微量杂质监测

“现场加氢站”-“制氢加氢一体站”是在站内对城市燃气(LNG/LPG)、甲醇等进行重整,生产出高纯度氢气,以供燃料电池汽车(FCV/FCEV)使用的设施。国家标准 GB/T37244-2018 《质子交换膜燃料电池汽车用燃料氢气》 不仅要求氢气纯度必须达到 99.97% 或更高,对每种杂质气体的浓度也设定了相应的要求。氢气中的不纯物(CO,CO2等)容易引起氢燃料电池车的核心部件质子交换膜发生催化剂中毒现象,从而缩短电池的使用寿命。GA-370 痕量气体分析仪凭借超低的检测下限(10ppb),能够轻松应对制氢过程中氢气的微量杂质的监测,稳定测量 CO、CO2 和 CH4,生产出符合要求的高纯氢气。


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测量原理

GA-370 痕量气体分析仪内置的红外光源的光束通过气室到达检测器。在测量过程中,电磁阀交替地将样气和参比气体引入到分析仪的测量气室中。与气室中充满参比气体时的情况相比,当气室中充满样气的时候,样气中的CO、CO2 以及 CH4 会引起到达检测器的光强度的不同。检测器检测到的两种气体对光的吸收差异,使检测器薄膜发生偏转而振动。采用这种测量技术能省去光学斩波器和光学调整的需要,消除零点漂移。

双向交替流动使样气和参比气体交替流入两个气室中,传感器产生的膜片位移是双向的,信号更强,因此能达到更低检出限和更高分辨率。


  



技术指标            

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* 注 1) 参比气体和量程气由用户提供,气瓶的精度需满足测试要求。

* 注 2) GA-370 痕量气体分析仪在特殊场合下并不安全。例如,在含H2的环境中使用时需配合防爆小屋以避免爆炸。

采购问答

GA-370 常见问题

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