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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

SZ-100 V2

SZ-100 V2纳米颗粒分析仪是一款多功能分析工具,适用于测量纳米颗粒的粒径、zeta电位、分子量及第二维利系数等参数,具备宽广的检测范围和浓度范围,并提供自动滴定功能以优化zeta电位测量。该设备操作简便,采用双光路设计提高测量精度,广泛应用于纳米颗粒、胶体、乳液及亚微米悬浮液的研究。主要参数包括粒径测定范围0.3nm至10μm,分子量测量范围1000至2×10^7 Da,以及样品量12μL至1000μL。

品牌: HORIBA产地: 日本价格: 面议服务区域: 全国

森德仪器提供 HORIBA SZ-100 V2 在全国范围内的代理经销、选型咨询、报价沟通、采购支持、安装培训和售后协同服务,价格面议。

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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。


SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。


产品特点


·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

·  宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

·  软件操作简单功能强大,一键测量

·  双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

·  采用微量样品池


技术参数


粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

粒径测定范围:0.3nm ~10μm

粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV

分子量测量原理:Debye plot

分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

样品量:12μL ~ 1000μL

采购问答

SZ-100 V2 常见问题

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 适合哪些生命科学实验流程?

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 适合分子生物学、细胞实验、核酸检测、教学科研和常规实验室流程。选型时应确认样品通量、耗材规格、实验安全、软件记录、数据导出和日常维护要求。

SZ-100 V2 如何保证实验结果稳定?

结果稳定性通常取决于样品质量、试剂耗材、温控或光学状态、操作流程和校准记录。建议建立固定 SOP,并用阴阳性对照、标准品或质控样持续跟踪。

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 采购前要确认哪些耗材和配套条件?

应确认专用耗材、试剂兼容性、空间供电、温湿度、安全要求和数据管理方式。若需要长期批量使用,还应评估耗材供应周期和单次实验成本。

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 适合哪些生命科学实验场景?

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 适合用于分子生物学、细胞实验、核酸检测、教学科研和常规实验室流程。选型时不要只看型号名称,建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括:SZ-100 V2纳米颗粒分析仪是一款多功能分析工具,适用于测量纳米颗粒的粒径、zeta电位、分子量及第二维利系数等参数,具备宽广的检测范围和浓度范围,并提供自动滴定功能以优化zeta电位测量。该设备操作简便,采用双光路设计提高测量精度,广。

SZ-100 V2 采购前最需要确认哪几项?

采购 SZ-100 V2 前建议确认核心性能指标、样品兼容性、自动化程度、软件和数据要求、安装条件、耗材维护、培训安排和售后响应。这样可以避免到货后才发现配置不足或现场条件不匹配。

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 的配置报价为什么会有差异?

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 的价格差异通常来自主机配置、检测或控制模块、自动化附件、软件授权、耗材包、安装培训、质保年限和应用支持范围。询价时建议要求按必选配置、可选升级和服务耗材分项列清。

HORIBA SZ-100 V2 与同类产品比较时应看什么?

比较 SZ-100 V2 与同类产品时,建议重点看性能稳定性、方法适配能力、扩展接口、软件易用性、耗材可获得性、维护复杂度和本地服务能力。长期使用场景下,运行成本往往和采购价同样重要。

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 安装前要准备哪些现场条件?

安装前应确认空间尺寸、供电、温湿度、台面或地面承重、气源、水源、排风、网络接口和安全要求。精密分析设备还要关注振动、粉尘、电磁干扰和日常维护通道。

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 后期维护重点是什么?

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 后期维护应关注易耗件更换、关键部件状态、校准或性能验证、软件备份、运行环境和异常报警记录。采购前可要求供应商提供常用耗材清单、建议维护周期和年度运行成本估算。

森德仪器能为 HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 提供哪些本地支持?

森德仪器可围绕 HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 提供广东、广州及华南区域的选型沟通、配置报价、采购支持、安装培训和售后协同。沟通时建议提供样品信息、应用目标、预算范围和交付时间,便于快速形成可执行方案。

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