日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 适合哪些显微成像场景？

日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2 适合用于微观形貌、缺陷、组织结构、表面特征和微区成分观察。选型时不要只看型号名称，建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括：日本电子（JEOL Ltd.）发布了全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2），具有超高空间分辨率与能谱分析的组合优化、新开发的FHP2物镜极靴、超宽极靴（WGP）提高能谱分析灵敏度、12极子球差（Cs）。