日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 可以测哪些类型的颗粒样品？

日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 适合粉体、浆料、乳液、悬浮液、纳米材料或相关工业样品的粒径表征。选型时要确认粒径范围、分散方式、样品是否团聚或吸湿，以及报告需要 D10、D50、D90 还是完整分布。