日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 适合哪些粒度与颗粒表征场景？

日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA 适合用于粉体、浆料、乳液、纳米材料、制药和新能源材料的粒径分布评估。选型时不要只看型号名称，建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括：日本电子株式会社（JEOL Ltd.）于2022年2月18日发布了新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)，专为蛋白质的单颗粒分析设计。该设备具有优化的电子光学系统、高分辨极靴、自动校正系统。