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日本电子 JEOL 聚焦离子束 JIB-4700F 更适合用于微观形貌、缺陷、组织结构和表面特征观察。选型时不要只看型号名称,建议同时确认样品类型、检测目标、通量、方法标准和数据输出要求;如果已有旧方法或旧设备,也应把当前流程一起用于配置比对。