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采购 JIB-4700F 前建议优先确认核心性能指标、样品兼容性、自动化程度、软件与数据合规、安装条件、耗材维护和售后响应。该产品现有介绍重点包括:JIB-47000F是一款集成了扫描电镜和聚焦离子束的高性能仪器,具有场发射电子枪,支持实时研磨监控。其FIB分辨率为5nm,SEM分辨率达到1.2 nm(15 kV)和1.6 nm(1KV),并具备气体注入系统用于刻蚀和沉积。该设备适用于。