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比表面积分析仪

DX400

DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面积测定仪,基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定,相比传统产品,实现准确和快速两大超越 准:可准确测试超小比表面积0.1 m2/g的标准样品,精确到0.01m2/g。 快:测试速度是传统产品的3倍,可实现1小时28个标准样品的超高测试效率。 非常适

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比表面积分析仪

DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面积测定仪,基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定,相比传统产品,实现准确和快速两大超越 准:可准确测试超小比表面积0.1 m2/g的标准样品,精确到0.01m2/g。 快:测试速度是传统产品的3倍,可实现1小时28个标准样品的超高测试效率。 非常适合钴酸锂、三元材料、磷酸铁锂、石墨、硅碳等电池正负极材料及其他小比表面积样品的测试。

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