HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪 观察样品前需要哪些制样条件?
HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪 用于显微成像时,应确认样品尺寸、导电性、表面清洁度、截面制备、固定方式和是否需要镀膜或染色。制样质量往往决定图像清晰度和缺陷判断可靠性。
NanoLog®
Nanolog®是HORIBA SCIENTIFIC推出的模块化荧光光谱仪,可实现稳态和瞬态测量,并配备多种附件和检测器,支持从紫外到近红外的光谱范围测量,特别适用于纳米技术和纳米材料的研究。其NanoSizer®软件能高效分析碳纳米管的特性,并具备快速三维荧光光谱获取能力。该设备具有高灵敏度、高光谱分辨率和时间分辨能力,能满足各类科研需求。
森德仪器提供 HORIBA NanoLog® 在全国范围内的代理经销、选型咨询、报价沟通、采购支持、安装培训和售后协同服务,价格面议。

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仪器简介:
HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)----荧光光谱仪器的全球,提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。
借助于成熟的FluoroLog®技术,Nanolog®采用模块化设计,即可实现稳态测量,也可实现瞬态测量(TCSPC技术),系统搭配成像光谱仪,可实现红外三维荧光快速测量。
NanoLog ®系列仪器专门用于纳米技术和纳米材料的前沿研究,NanoLog ®可以检测到800-1700nm的近红外范围,可选~2μm的多通道检测器和~3μm的单通道检测器,同时也可实现紫外-可见区荧光光谱测量。专为单壁碳纳米管(SWNTs)设计的NanoSizer®软件,可计算荧光共振能量传递(FRET)和碳管内径分布,并且在微秒时间内就能获得完整的二维光谱图,1秒内获得的激发-发射三维荧光光谱图。
可选附件:
· 超连续激光光源
· 液氮杜瓦瓶
· HPLC流通池
· 光纤导入支架
· 多芯光纤
· 四位电磁搅拌控温样品架
· 两位电磁搅拌控温样品架
· 单池电磁搅拌控温样品架
· 固体样品架
· 积分球
· 停留附件
· 显微镜耦合部件
· 多孔板阅读器
· 铂尔贴控温装置
· 外部触发装置
· 自动滴定注射附件
· 1~5/50/250μL微量样品池
· 截止滤光片
· 偏振片附件
· 低温附件
技术参数:
· 450W的大功率连续氙灯,涵盖UV~NIR波长范围
· 快速获得全波长范围激发-发射三维荧光图
· Symphony II InGaAs阵列检测器:800~1700nm;规格可选:256×1,512×1和1024×1,单像元25µm;噪音水平:650e-rms (液氮制冷);可选电制冷;扩展范围可选(1.1-2.2µm)
· iHR320发射光谱仪:焦长=320mm;f/4.1;线色散=2.64nm/mm;分辨率=0.06nm;全软件控制三光栅塔轮(所有测定在光栅刻线数1200gr/mm条件下)
· 固态近红外检测器,光电倍增管覆盖UV~NIR全光谱范围寿命测定,采用时间相关单光子计数技术测定荧光寿命范围:100ps~1ms(UV~NIR);磷光寿命范围1us~>10s(UV~NIR)
主要特点:
· 一秒内获得激发-发射三维光谱
· 高灵敏度的近红外InGaAs阵列检测器
· 高光谱分辨率
· 易于实现SWNTs的定性和定量分析
· 可选多种检测器适于紫外至近红外光谱范围的检测需求:
- PMT用于高灵敏度和时间分辨的测量
- InGaAs阵列检测器用于NIR数据的快速采集
- CCD阵列检测器用于UV-Vis数据的快速采集
· 同时解析量子点
· 易于实现能量转移研究
· 模块设计以满足不同实验的需求
注:具体配置、价格请咨询当地销售工程师
采购问答
HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪 用于显微成像时,应确认样品尺寸、导电性、表面清洁度、截面制备、固定方式和是否需要镀膜或染色。制样质量往往决定图像清晰度和缺陷判断可靠性。
NanoLog® 的成像模式应围绕目标结构尺寸、对比方式和分析目的确定。若要做定量图像分析,还需要保证标尺校准、照明或束流条件稳定。
如果需要微区成分、缺陷来源或污染物判断,可能需要能谱、离子束、切割抛光或镀膜设备。选型时建议把典型样品和判定目标一起评估。
HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪 适合用于微观形貌、缺陷、组织结构、表面特征和微区成分观察。选型时不要只看型号名称,建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括:Nanolog®是HORIBA SCIENTIFIC推出的模块化荧光光谱仪,可实现稳态和瞬态测量,并配备多种附件和检测器,支持从紫外到近红外的光谱范围测量,特别适用于纳米技术和纳米材料的研究。其NanoSizer®软件能高效分析碳纳米管的特。
采购 NanoLog® 前建议确认核心性能指标、样品兼容性、自动化程度、软件和数据要求、安装条件、耗材维护、培训安排和售后响应。这样可以避免到货后才发现配置不足或现场条件不匹配。
HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪 的价格差异通常来自主机配置、检测或控制模块、自动化附件、软件授权、耗材包、安装培训、质保年限和应用支持范围。询价时建议要求按必选配置、可选升级和服务耗材分项列清。
比较 NanoLog® 与同类产品时,建议重点看性能稳定性、方法适配能力、扩展接口、软件易用性、耗材可获得性、维护复杂度和本地服务能力。长期使用场景下,运行成本往往和采购价同样重要。
安装前应确认空间尺寸、供电、温湿度、台面或地面承重、气源、水源、排风、网络接口和安全要求。精密分析设备还要关注振动、粉尘、电磁干扰和日常维护通道。
HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪 后期维护应关注易耗件更换、关键部件状态、校准或性能验证、软件备份、运行环境和异常报警记录。采购前可要求供应商提供常用耗材清单、建议维护周期和年度运行成本估算。
森德仪器可围绕 HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪 提供广东、广州及华南区域的选型沟通、配置报价、采购支持、安装培训和售后协同。沟通时建议提供样品信息、应用目标、预算范围和交付时间,便于快速形成可执行方案。
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