HORIBA XploRA Nano 原子力-拉曼联用系统 观察样品前需要哪些制样条件？
HORIBA XploRA Nano 原子力-拉曼联用系统 用于显微成像时，应确认样品尺寸、导电性、表面清洁度、截面制备、固定方式和是否需要镀膜或染色。制样质量往往决定图像清晰度和缺陷判断可靠性。
XploRA Nano
该产品结合了AFM的纳米量级高空间分辨率和拉曼指纹光谱技术，实现了高空间分辨率下的物理特性和化学结构测试。其特点包括同区域成像、针尖增强拉曼（TERS）、自动准直、高效光路耦合及高频扫描等。该平台支持多种光学配置，适用于不同类型的样品，能够进行快速、可靠的纳米材料分析和化学成分成像，特别适合于石墨烯等纳米结构的研究。
森德仪器提供 HORIBA XploRA Nano 在全国范围内的代理经销、选型咨询、报价沟通、采购支持、安装培训和售后协同服务，价格面议。
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详细信息：
将AFM的纳米量级高空间分辨率和拉曼指纹光谱技术耦合起来，实现高空间分辨率下物理特性、化学结构测试。
产品特点：
● AFM和拉曼同区域成像
● 针尖增强拉曼（TERS)
● AFM光杠杆反馈激光自动准直
● 可同时提供上方、侧向耦合光路，均可使用X100高NA物镜以提高收集效率
● 高频扫描头，对环境噪声不敏感
AFM-拉曼耦联配置
HORIBA Scientific拉曼技术可与扫描探针显微镜（SPM）进行耦合，构建一个功能强大且灵活的AFM-拉曼平台。研究人员可根据期望的AFM-拉曼工作模式来选择合适的仪器。
所有具备激光扫描技术的配置都可以通过对扫描探针上的激光反射进行快速成像或者根据针尖增强拉曼散射信号对热点进行成像，因而该配置能够准确、可靠地将激光定位到SPM探针针尖上。
高通量的光信号收集和检测硬件保证在快速扫描的同时采集每一点的SPM信号和拉曼光谱。
AFM-拉曼和针尖增强拉曼散射（TERS）
将您的所有需求集成到一个强大的系统中
我们所提供的完美解决方案使用直接光路耦合，对其进行优化以实现高通量。该平台可以把原子力显微镜（AFM）、近场光学技术（SNOM,NSOM）、扫描隧道显微镜（STM）和共焦光学光谱仪（拉曼和荧光成像）耦合到一台多功能的仪器中，以实现针尖增强拉曼散射（TERS）或共点测量。
结合纳米成像和化学分析
单层、双层和三层石墨烯的共点AFM和拉曼成像
● AFM和其他SPM技术可提供分子级别分辨率下的形貌、力学、热能、电磁场和近场光学特性。
● 共焦拉曼光谱和成像可提供纳米材料在亚微米空间分辨率下的详细化学信息。
● 同步测量的独特平台，有助于您获得可靠且位置高度重合的图像。
● 结合高性能和易用性，HORIBA将会根据您所选择的SPM制造商提供一个可靠、全功能的解决方案
● 针尖增强拉曼光谱(TERS)的光学、机械和软件都是经过优化设计的，同时有HORIBA在拉曼光谱几十年的经验做技术支持，您可以自信地使用这一技术。
一个工具多种可能：AFM-拉曼有助于您提高效率
● 快速找到纳米对象
由于纳米材料具有特殊的化学属性，拉曼峰信号较强，因此在光学显微镜下不可见的纳米材料可以通过超快速拉曼成像进行搜索和定位。在找到样品后，我们可以对感兴趣的位置进行形貌、机械、电学和热能分析。
● 交叉验证您的数据
拉曼光谱可以证实材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的对比度较差而难以确定层厚，拉曼则可以从另外一个角度去获得相同的信息，此外拉曼还提供更多有关结构和缺陷的信息，此信息只有具备原子分辨率的AFM才能提供。
● 获得感兴趣纳米结构的化学信息
在表征纳米结构时，有时仅获得物理性质是不够的。高分辨的拉曼共焦成像可提供详细的化学成分信息，这是其他SPM传感器无法实现的。
● 探索TERS（针尖增强拉曼散射）领域
TERS（或纳米拉曼）可以综合两种技术之优势：可获得空间分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化学特异性拉曼光谱成像。该技术可用于表征从纳米管到DNA等各种样品。
多种光学配置HORIBA的AFM-拉曼平台支持多种光学方案：
| 底部耦联：针对透明样品 顶部耦联：针对共点拉曼或倾斜针尖的TERS 侧向耦联：测定不透明样品的TERS的优解决方案 可提供多端口和并排配置 |
注：具体配置、价格请咨询当地销售工程师
采购问答
HORIBA XploRA Nano 原子力-拉曼联用系统 用于显微成像时，应确认样品尺寸、导电性、表面清洁度、截面制备、固定方式和是否需要镀膜或染色。制样质量往往决定图像清晰度和缺陷判断可靠性。
XploRA Nano 的成像模式应围绕目标结构尺寸、对比方式和分析目的确定。若要做定量图像分析，还需要保证标尺校准、照明或束流条件稳定。
如果需要微区成分、缺陷来源或污染物判断，可能需要能谱、离子束、切割抛光或镀膜设备。选型时建议把典型样品和判定目标一起评估。
HORIBA XploRA Nano 原子力-拉曼联用系统 适合用于微观形貌、缺陷、组织结构、表面特征和微区成分观察。选型时不要只看型号名称，建议同时确认样品类型、检测目标、通量、执行标准、数据输出和后续维护要求。现有资料中该产品的重点信息包括：该产品结合了AFM的纳米量级高空间分辨率和拉曼指纹光谱技术，实现了高空间分辨率下的物理特性和化学结构测试。其特点包括同区域成像、针尖增强拉曼（TERS）、自动准直、高效光路耦合及高频扫描等。该平台支持多种光学配置，适用于不同类型的样品，能够。
采购 XploRA Nano 前建议确认核心性能指标、样品兼容性、自动化程度、软件和数据要求、安装条件、耗材维护、培训安排和售后响应。这样可以避免到货后才发现配置不足或现场条件不匹配。
HORIBA XploRA Nano 原子力-拉曼联用系统 的价格差异通常来自主机配置、检测或控制模块、自动化附件、软件授权、耗材包、安装培训、质保年限和应用支持范围。询价时建议要求按必选配置、可选升级和服务耗材分项列清。
比较 XploRA Nano 与同类产品时，建议重点看性能稳定性、方法适配能力、扩展接口、软件易用性、耗材可获得性、维护复杂度和本地服务能力。长期使用场景下，运行成本往往和采购价同样重要。
安装前应确认空间尺寸、供电、温湿度、台面或地面承重、气源、水源、排风、网络接口和安全要求。精密分析设备还要关注振动、粉尘、电磁干扰和日常维护通道。
HORIBA XploRA Nano 原子力-拉曼联用系统 后期维护应关注易耗件更换、关键部件状态、校准或性能验证、软件备份、运行环境和异常报警记录。采购前可要求供应商提供常用耗材清单、建议维护周期和年度运行成本估算。
森德仪器可围绕 HORIBA XploRA Nano 原子力-拉曼联用系统 提供广东、广州及华南区域的选型沟通、配置报价、采购支持、安装培训和售后协同。沟通时建议提供样品信息、应用目标、预算范围和交付时间，便于快速形成可执行方案。
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