产品中心

Synapse Plus 高速 CCD 探测器是一款专为高精度光谱测量设计的高性能CCD探测器，具有高灵敏度、低噪声和宽动态范围等优点。它支持多种芯片规格，并且采用半导体制冷技术以降低暗电流。此外，Synapse CCD还配备了USB 2.0接口和灵活的触发方式，便于与计算机连接和实验控制。其内置快门驱动功能可方便地进行曝光时间控制和背景噪声修正。该设备适用于各种光谱测量场景，如吸收光谱、拉曼光谱和光致发光光谱等。

HORIBA 推出的 InverTau™ 是一款先进的 FLIM 激光扫描系统，结合了高稳定性、高灵敏度的荧光寿命成像技术，适用于多种研究领域。该系统支持从 50 皮秒到数秒的寿命范围检测，可与 FLIMera™ 相机及脉冲激光器协同工作，并通过 FiPho 计时单元的 TCSPC 技术实现精准寿命成像。其 4K×4K 高分辨率、多种扫描模式以及直观的 EzTime™ 软件，使其成为兼具高精度与多功能性的理想选择，同时兼容 Nikon® Ti2-U 等多种显微镜型号。

PD-Xpadion是HORIBA最新一代光掩膜颗粒检测产品，采用模块化平台设计，适用于光刻和掩膜生产的各种检测需求。结合Fab自动化和HORIBA的核心技术，PD Xpadion不仅能进行颗粒检测，还能通过拉曼分析对颗粒进行表征，并监测膜厚、均匀性和膜健康状况。该设备具备高机械强度、高灵活性、高性能和高模块化特点，平均故障间隔时间达1500小时，正常运行时间超过98%，可实现光掩膜三个面的高效扫描。

LEM 是一款基于干涉测量技术的高精度薄膜厚度和沟槽深度检测设备，适用于蚀刻和沉积制程。LEM 通过在样品表面产生小激光点，利用单色光干涉原理，实时监测蚀刻/沉积速率和厚度，支持条纹计数及复杂分析，以提供增强的制程控制终点检测。该系统包含 670、905 或 980 nm 激光器，可适应多种薄膜材料，并提供样品表面的实时数字 CCD 图像，便于光斑定位。HORIBA 提供专用软件，用于干涉监测和终点检测。

HORIBA PG-300系列便携式气体分析仪以其简便的操作和高精度的特点，能够实时监测五种关键气体组分，具备快速响应、轻巧便携和抗冲击设计。其多功能触摸屏和多种数据输出方式使其适用于各种环境监测需求，并在全球多个地区获得认证。

TCA-5000氢气分析仪专为催化剂研发、燃料电池及钢铁生产设计。机身紧凑轻便，配彩色触摸屏与USB输出，内置阻火器确保安全，适用于多场景氢气监测。

HY(DP)502005型微机控制电子式拉压扭转疲劳试验机适用于医用骨科植入物的疲劳试验，具备设定试验频率、力值、位移等功能，主要技术参数包括测力范围±5000N±50Nm，测力精度1级，试验频率0-50Hz，以及多种波形选择。该设备操作便捷，效率高，适用于小负荷、低频率的理想试验需求。

JSX-1000S是日本电子于2014年推出的一款能量色散X射线荧光元素分析仪，具备高灵敏度和高效能，操作简便，适用于多种元素分析。其外观设计时尚，技术参数涵盖从Na到U的探测范围，并配备多种过滤器和检测器选项，支持真空及大气环境下的样品检测。此外，软件功能全面，包括定性分析、定量分析及RoHS相关应用等。