产品中心

JEM-ACE200F是日本电子推出的一款高性能、高稳定性的透射电子显微镜，注重分析效率和操作自动化。其独特的设计不仅提升了抗干扰能力，而且拥有卓越的技术参数，包括点分辨率0.21nm和信息分辨率0.11nm等，并标配洛伦兹模式及双超级能谱配置。

日本电子株式会社（JEOL）推出新款场发射透射电镜JEM-F200，整合了近年透射电镜的各种功能。该设备采用四级聚光镜设计，具备高端扫描系统、皮米精度样品台控制及全自动装样测角台，并搭载双超级能谱系统，提供便捷、安全的操作体验，同时具备优秀的高分辨观察和成分分析能力。此外，JEM-F200还具有节能减排的特点。

氩离子截面抛光仪（Cross Section Polisher，简称CP）是一种由日本电子公司研发的创新仪器，通过使用氩离子束轰击样品表面以制备截面，适用于扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、EBSD分析等领域。自2004年问世以来，该技术在全球范围内迅速普及，并成为一种标准加工方法。最新一代产品IB-19530CP于2017年推出，显著提升了加工质量和操作便利性。其主要特点是能够制备出极为平整且损伤小的截面，尤其适合处理复合材料。