
HORIBA · UVISEL
HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
该椭圆偏振光谱仪采用无损无接触光学测量技术,能够测定薄膜、界面和表面粗糙层的厚度及光学性质,覆盖厚度范围广,并能测试材料的反射率及透过率。其技术参数包括宽光谱范围、多种微光斑选择及优化的探测器,同时具备高频相调制技术与超快动态采集模式,适用于多种复杂环境下的测量需求。
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FTIR、UV、荧光、拉曼、ICP-OES、XRF、近红外
光谱与元素分析 · 第 5 / 8 页 · 共 170 条

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