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该设备是一款高性能的扫描电子显微镜，具有超高分辨率（最高0.5 nm@15 kV和0.7 nm@1 kV）和高速精确分析能力。适用于广泛的样品类型，包括磁性和非导电材料。其主要技术参数包括：分辨率0.6nm@15kV、0.7nm@1kV；放大倍数25至2,000,000倍；加速电压0.01至30kV；束流强度高达300nA（15kV）。配备浸没式热场发射电子...

日本电子株式会社推出高通量新型扫描电子显微镜JSM-IT700HR，并发布了其升级版JSM-IT710HR，具有最高1nm分辨率和300nA最大探针电流，支持快速高清晰图像采集与简便元素分析。该设备采用触屏式用户界面，具备大样品室和防震设计，新增信号深度显示功能，便于实时了解样品分析深度。提供低真空观察型和分析型两种型号，满足不同需求。

电子探针作为电子光学产品中唯一能够进行准确定量分析的仪器，通过波谱和能谱技术对材料成分进行快速而精准的分析。如需了解更多详情，请联系捷欧路（北京）科贸有限公司各分公司。

JEOL JIB-PS500i是一款高精度聚焦离子束系统，具备超高分辨率（0.7nm@15kV, 1nm@1kV），超大离子束流至500nA，以及优秀的离子束分辨率（3nm）。该设备还支持高达100nA的离子束流，并配备自动软件，能够与透射电镜无缝连接。

JEM-ACE200F是日本电子推出的一款高性能、高稳定性的透射电子显微镜，注重分析效率和操作自动化。其独特的设计不仅提升了抗干扰能力，而且拥有卓越的技术参数，包括点分辨率0.21nm和信息分辨率0.11nm等，并标配洛伦兹模式及双超级能谱配置。

JIB-47000F是一款集成了扫描电镜和聚焦离子束的高性能仪器，具有场发射电子枪，支持实时研磨监控。其FIB分辨率为5nm，SEM分辨率达到1.2 nm（15 kV）和1.6 nm（1KV），并具备气体注入系统用于刻蚀和沉积。该设备适用于微区观察、样品分析及研磨，拥有广泛的适用范围和多项技术特点。

日本电子株式会社（JEOL Ltd.）于2022年2月18日发布了新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA)，专为蛋白质的单颗粒分析设计。该设备具有优化的电子光学系统、高分辨极靴、自动校正系统和改进的稳定性，同时配备冷场发射电子枪和内置式欧米茄能量过滤器，提升了操作性和数据质量。

日本电子株式会社于2010年推出冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜ARM200F，解决了传统冷场发射技术稳定性及亮度问题，提高了透射电镜的使用需求。ARM200F具备亚纳米分辨率和高能量分辨率，增强了原子级观察与分析能力。随后，多国科研机构开始采购此设备，中国也购置了多台用于不同研究领域。2017年，日本电子株式会社推出更新款NEO ARM，进一步扩...