
日本电子/JEOL · SXES
日本电子 JEOL 软X射线分光谱仪 SXES
软X射线分析谱仪通过采集样品上的软X信号进行分析,其能量分辨率高达0.3eV,对轻元素的定量分析准确度高,如B元素的检出限可达20ppm,还可进行元素价态分析。该仪器能大幅提升扫描电镜和电子探针的分析能力。有关详情可咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路(北京)科贸有限公司及其各分支机构。
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